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ARL X’TRA衍射仪是精美的粉末X-射线衍射分析系统：全新工艺设计的测角仪和Peltier半导体温差制冷Si(Li)固体检测器的结合使该仪器具有高性能价格比。
功能包括：定性和定量物相分析,Rietveld 法无标样定量分析,结晶分析,低温和高温X-射线衍射
ARL X'TRA X是一种经济实用的高质量粉末衍射应用的仪器
ARL X'TRA 是Thermo的粉末衍射系统，融合了25年XRD生产经验和卓越的工艺设计。ARL X¢TRA具有优良的性价比，适用于学术研究、化学、医药、聚合物、半导体、薄膜、金属和矿物等方面应用。
利用立式q:q测角仪，该仪器便利于样品制备、样品交换器更替和特殊样品架的使用，为处理粉末样品提供便利的衍射几何学。为优化实验条件，测角仪采用了可移动的双索拉狭缝和采用微米控制的连续可变的狭缝来调整入射束和衍射束的宽度。ARL X¢TRA测角仪的X-射线光学系统确保具有卓越的分辨率，对小角衍射分析在2q低达0.5°处可获得衍射峰，系统的模块化配置允许使用多种的样品台来满足宽范围的应用。
ARLX'TRA 能配备Thermo特有的杰出的Peltier制冷Si(Li)固体检测器。这种探测器与闪烁检测器相比有优秀的分辨率，而且不需要滤片和单色器就可以除去K-Beta和X-射线荧光，因此，衍射峰强度高于其他系统。
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